磁界測定(測定器)

測定器に係わる規格

JIS

 一般環境における様々な電磁界の強さに関心が高まるなか、その用途に応じた測定器が開発されています。しかし、電磁界の周波数、時間的な変動の有無、空間内の分布の違いによって、測定器の仕様や測定手順は異なります。

 そこで、人への電磁界ばく露に関する測定器および測定手順については、日本工業規格JIS C 1910「人体ばく露を考慮した低周波磁界及び電界の測定-測定器の特別要求事項及び測定の手引き」で規格化されています。この「JIS C 1910」は国際規格である国際電気標準会議「IEC61786」を翻訳し技術的内容および規格表の様式を変更することなく作成された日本工業規格です。

 日本工業規格(JIS: Japanese Industrial Standards):国が定める日本の工業分野における標準(規格)
JIS****は個々の規格を表します

 国際電気標準会議(IEC: International Electrotechnical Commission):電気電子及び関連技術分野の標準化を行う機関
IEC****は個々の規格を表します

 

 

測定器のしくみ

 

 空間に存在する磁界はある方向を持った強さ(ベクトル)ですが、方向がわからない場合の測定には、3軸測定器が適しています。3軸測定器は3軸(3次元)それぞれの強さを測定でき、この3軸の強さを合成した値を計算、表示するため、磁界の方向を意識することなく測定できます。


3軸ベクトルの合成

 3軸測定器の他に1軸測定器がありますが、これはある方向の磁界しか測定できないため、直角となる3方向でそれぞれ測定し、その結果を合成計算する必要があります。従って、1軸測定器による一回だけの測定では、正しいベクトル測定ができませんので、3軸測定器のほうが簡便に使用できます。

 なお、測定器を選ぶ時には、測定器が1軸か3軸かを仕様書により確認する必要があります。

   

測定器の特性

 日常の暮らしのなかに様々な周波数の磁界が存在しますが、測定器も周波数によって測定精度(誤差やひずみ)や測定できる周波数の範囲が異なります。

 たとえば、下のような特性(ひずみ)を持った測定器を用いて1マイクロテスラの磁界を測定した場合、左下図の測定器では、50ヘルツでは1マイクロテスラと表示しますが、45ヘルツではひずみが-60%なので0.4マイクロテスラ(1-1×60%)と表示されます。一方、右下図の測定器では、60ヘルツでは1マイクロテスラと表示しますが、1000ヘルツではひずみが+800%なので9マイクロテスラ(1+1×800%)と表示されます。

周波数と精度のグラフ

 このことからも、低周波磁界を対象とした測定器を用いて、高い周波数の磁界を測定した場合は、その値は正確ではありませんので、測定器の周波数特性を仕様書などで確認する必要があります。

測定器の種類

 一般に入手できる測定器には、前述した仕組みの違い(1軸と3軸)や周波数特性の異なるものの他にも、用途によっていくつか種類があります。

 たとえば、瞬時の値を測定できる測定器もあれば、長時間の値を連続測定してメモリー機能により記録できる測定器もあります。


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